A partir del 26 de abril, el Microscopio electrónico de barrido SEM con detector EDS, modelo JEOL JSM 6010 PLUS/LA, estará disponible para actividades de investigación de la Facultad de Ingeniería. Esto, gracias a la gestión del Grupo Interdisciplinario de Nanotecnología Aplicada (GINA) y en particular del académico Manuel Meléndrez, quien a través de los fondos del año 1 y 2 de bienes de capital de su proyecto Fondecyt regular N° 1201338 logró adquirir este importante equipo.
“Entramos en las facultad del país que tienen su propio microscopio electrónico de este tipo y único en la Universidad de Concepción”, explica Manuel Meléndrez, quien además agradece el aporte de la Vicerrectoría de Investigación y Desarrollo, mediante fondos de overhead e infraestructura de proyectos de los académicos Ramalinga Mangalaraja y Juan Pablo Sanhueza (DIMAT), y Katherina Fernández del Departamento de Ingeniería Química (DIQ), como también aportes del propio DIMAT y préstamo del IIT UdeC, dinero que permitió pagar su internación y posterior traslado.
El microscopio electrónico permitirá ahorros de tiempo muy valiosos para la investigación, puesto que antes se debían enviar muestras al CESMI o actualmente CMA donde existe un equipo similar., lo que podría tardar 15 días. Ahora, durante un día se podrá obtener información valiosa para avanzar más rápido y con tecnología de punta.
El equipo tendrá dos días exclusivos para los investigadores del grupo GINA, otros dos días para actividad académica o de investigación de otros colegas o departamentos de la FI UdeC y un día para asistencia técnica.
Consultas a Manuel Meléndrez, mmelendrez@udec.cl
Descripción
– Microscopio electrónico de barrido marca JEOL modelo JSM 6010 PLUS/LA
– Cuenta con Detector EDS (Energy Dispersive X-rays spectroscopy) de estado sólido, y Detector de Electrones Secundarios (SE)
Especificaciones
– Resolution: 4.0nm (at 20kV)
– Resolution in LV Mode: 5.0nm
– Magnification: 8X to 300,000X (5X possible)
– Accelerating Voltage: 500V to 20kV
